bruker光學輪廓儀Contour GT系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

Bruker檢驗科用原子力顯微鏡結(jié)合了原子力顯微鏡和倒置光學顯微鏡并保留了兩者各自的優(yōu)點，大大減少了對實驗的時間和精力的投入，是生命科學領(lǐng)域易用的原子力顯微鏡。

Bruker AXS 掃描探針顯微鏡Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產(chǎn)品中的產(chǎn)品，其閉環(huán)掃描的噪音水平接近一些開環(huán)掃描系統(tǒng)的水平，可廣泛應用于器件表征、物理、材料科學和生命科學領(lǐng)域。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用 Dimension Edge融合了布魯克 Dimension Icon 系列上所應用的一些創(chuàng)新技術(shù)，因而達到了同類產(chǎn)品的Z高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。